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二の町8050
新潟大学工学部
化学ｼｽﾃﾑ工学科 Tel
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（佐藤）
Tel
：025(262)6771
（戸田） |
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| 装置名 |
型式 |
使用目的 |
写真 |
| X線回折装置 |
mac science
MX-Labo
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粉末試料の同定
試料にX-rayを照射することにより得られる回折ピークから同定を行う
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| 電気炉 |
研究室特製 |
高温焼成 （最大1250℃）
セラミックス材料は高温での合成が必要となるのでこれらを使用 |
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| グローブボックス |
ユニコ
UN-650F |
水厳禁試料、吸水性試料等のアルゴン、窒素雰囲気中での作業
主に、電池測定、高反応性試料の合成時に使用 |
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| 電池特性測定装置 |
HOKUTO
DENKO
HJ-101SM6 |
リチウムイオン二次電池用正極材料等の特性測定 |
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| インピーダンス測定装置 |
Hewlett
Packerd
4192A
LF Impedance Analyzer |
粉末試料等の電気抵抗測定 |
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| スパッタ装置 |
SBR-1996特
ME53-0142 |
化学的イオン蒸着による薄膜の形成
薄膜を形成し、抵抗や電池特性の調査を行っている。 |
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| 真空蒸着装置 |
EIKO
DID-5 |
スパッタ−装置同様 |
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| 偏光顕微鏡 |
−− |
単結晶試料の偏光の光学異方性を観測する |
− |
EPMA
（共同利用） |
−− |
粉末試料、単結晶試料等の表面組成測定 |
− |
SEM
（共同利用） |
JSM-5300 |
電子顕微鏡、μｍ単位の観測ができます。 |
写真 |
表面積測定装置
（共同利用） |
−− |
試料の比表面積を測定してくれます。 |
写真 |
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