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新潟大学工学部
化学ｼｽﾃﾑ工学科 Tel
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PatViewの概要
PatViewは粉末X線回折パターンをマニュピュレートするプログラムで、主な機能は次の2つ機能に分類される。1つはRietveld解析用のファイルの作成と表示、もう1つは粉末X線回折データの種々の解析、に利用できる。
主な機能
・種々の粉末X線ファイル形式の読み込み
・パターンの画像ファイルへの出力
・Ab Initioによる粉末X線回折結晶構造解析
・Manual Search
・Auto Search
・指数付け
・空間群の探索
・EXPO入力ファイルの作成
・EXPOの実行
・EXPOの解からRIetan2000用の入力ファイルの作成
です |
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PatViewの概観 |
●PatViewの使い方についてはここから |
| 注:Auto Peak Searchモードでピークを検出したところ |
●プログラムのダウンロード Download |
●指数付けを行った後、格子定数を精密化したい場合はCellRefが必要となります。
CellRefのDownloadはここ。
●PatViewは豊富な機能を備えていますので、それの機能を全て使用する場合には種々の外部プログラムが必要になります。詳細についてはPatViewのマニュアルを参照。
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