PatViewは粉末X線回折パターンをマニュピュレートするプログラムで、主な機能は次の2つの機能に分類されます。
　（１）　Rietveld解析用のファイルの作成と表示（CRietan2000と併用）
　（２）　粉末X線回折データの種々の解析

　GenHKLは結晶学的データから簡単に粉末X線回折パターンを作成するプログラムです。Rietan2000にも同様な機能がありますが、より手軽に回折パターンを作図することができます。

　CellRefは格子定数を精密化するプログラムです。粉末X線回折パターンから回折ピークの2θ値を求め、それらピークの(hkl)の指数を入力して格子定数を求めます。PatViewと併用するとより効果的に機能します。

　ICSD、CIFなどのデータベースファイルから即座にBall&Stickの結晶構造モデルを作成します。Rietan2000のVICSほどの高機能はありません。一般的にはCRietan2000と併用します。

　Rietan2000の出力ファイルからフーリエ合成を行い、そのマップを表示します。一般的にはCRietan2000と併用します。

　リータンの出力ファイルやICSDファイルからフーリエ法とエバルト法を用いて格子エネルギーを計算します。Rietanに付属していたMadel（フーリエ法）を用いると任意の空格子点のサイトポテンシャルを計算することができます。

　リータンの出力ファイルやICSDファイルからBond valence sumを計算します。